SOC720SW短波紅外成像光譜儀900~1700nm
|
|
最后更新:2013-01-05
關 注 度:2245
生產企業(yè):北京安洲科技有限公司
|
|
|
與企業(yè)聯(lián)系時請告知該信息來自教育裝備網(wǎng)! |
|
|
產品詳細介紹 SOC720SW 短波紅外成像光譜儀是一款高質量、高性能的儀器,光譜范圍為900nm~1700nm。 SOC720SW具有高光譜分辨率 (6.25 nm), 輕度光譜失真 (<1.5 nm)成像分光計和高靈敏度的InGaAs 探測器 (D* = 1.5e13 √cm-Hz/W),使得SOC720SW可以14-bit同時收集640像素、128個波段的光譜信息。這保證了所有應用里,獲得的是最高質量數(shù)據(jù)。 使用簡單和實時處理 SOC720SW是一個完整的系統(tǒng),開箱之后即可使用。 系統(tǒng)采用SOC的HyperSpect™ 操作軟件和HSAnalysis™校準和分析工具進行標定和使用前設置。 數(shù)據(jù)以開放的BIL二進制格式保存,可以兼容第三方分析軟件。無需額外的掃描儀或軟件。 可選的SOC MIDIS™處理器以最優(yōu)的電腦速度快速執(zhí)行光譜處理,克服了大部分成像光譜儀在實時數(shù)據(jù)處理方面的瓶頸。 MIDIS處理器具有多個相關通道同時監(jiān)測測量數(shù)據(jù)和三光譜積分,使得MIDIS處理器有能力克服當今數(shù)據(jù)處理的難題。 配備了一個高質量的成像分光計、標定和分析軟件、高速低噪InGaAs線列和完整的掃描系統(tǒng),SOC-720SW通過高速Camera-Link接口可以記錄900nm到1700nm光譜范圍內、6.25nm分辨率的高質量光譜成像數(shù)據(jù)。靈敏度高于1.5x1013cmHz/W(1550nm)。 SOC的HS分析軟件可以用來進行標定和數(shù)據(jù)分析。記錄的數(shù)據(jù)格式為開放式的二進制數(shù)據(jù),可以很容易的用第三方分析軟件打開,如ENVI軟件。無須數(shù)據(jù)格式轉換。
技術參數(shù): 光譜范圍: 900-1700 nm 光譜分辨率: 6.25 nm 光譜通道: 128 光譜失真: <1.5 microns (smile) 數(shù)字光圈: F/2.4 TFOV/IFOV (35MM): 10°/0.015625° 分辨率(像素): 640x640 (nominal) LINE RATE: 30 Spatial Lines/Second CUBE RATE: 20 Seconds/Cube 數(shù)字分辨率: 14-bit 三腳架: 3/8”-16 計算機接口: Cameral-Link 掃描: 內置 供電: AC/12DV 重量: 30 lbs. 尺寸: 7”x14”x22”
應用領域: 機械視覺 電子學和塑膠 晶片檢查 農業(yè)品質 化學過程控制
農業(yè)領域 精準農業(yè) 土地分類 水份脅迫 作物健康 溫度記錄 火點監(jiān)測 玻璃檢測 金屬純度 軍事 ISR 邊境安全 導彈跟蹤 醫(yī)學領域 血糖分析 X線斷層攝影術 |
|
會員級別:免費會員 |
加入時間:2010-09-27
|
|
|