μTS 介觀尺度測(cè)試系統(tǒng) 原位加載
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產(chǎn)品型號(hào)：1.6kN Micro Frame；4.5kN Vacuum；10kN Mini Frame
產(chǎn)品代碼：μTS
產(chǎn)品價(jià)格：
產(chǎn)品編碼：μTS
折 扣 率： 0
最后更新：2021-02-03
關(guān) 注 度：2287
生產(chǎn)企業(yè)：北京睿拓時(shí)創(chuàng)科技有限公司
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產(chǎn)品詳細(xì)介紹μTS介觀尺度測(cè)試系統(tǒng)——光學(xué)顯微鏡和DIC數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)的結(jié)合，可以滿足納米級(jí)精度測(cè)量需求。光學(xué)顯微鏡受可見(jiàn)光波長(zhǎng)限制分辨率只能達(dá)到250nm，由于DIC技術(shù)具有強(qiáng)大圖像處理能力可以準(zhǔn)確實(shí)現(xiàn)0.1像素位移測(cè)量，因此μTS顯微測(cè)試系統(tǒng)的分辨率可達(dá)到25nm。
在光學(xué)顯微鏡下材料的原位加載實(shí)驗(yàn)中，最大挑戰(zhàn)在于加載過(guò)程產(chǎn)生的離面位移，高分辨率位移場(chǎng)需要高放大倍數(shù)顯微鏡，意味著景深很小，幾微米的離面位移就會(huì)造成顯微鏡失焦。μTS顯微測(cè)試系統(tǒng)針對(duì)離面位移有特殊設(shè)計(jì)，有效地控制了離面位移對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果影響。（專利：US008966992B2）
應(yīng)用與特性：
連續(xù)介質(zhì)模型驗(yàn)證——為各向異性材料有限元分析提供多尺度測(cè)試
微尺度試樣測(cè)試——降低材料開(kāi)發(fā)成本
多功能模塊設(shè)計(jì)——滿足不同試驗(yàn)及環(huán)境需求
應(yīng)用：
復(fù)合材料：從微尺度構(gòu)建宏觀材料性能，研究不同纖維和加載方向?qū)傩宰兓?br/>金屬微觀：研究金屬晶粒間相互作用，獲得表面應(yīng)變的影響。
焊接： 測(cè)試微小焊接截面，獲得厚向異性材料性能。
陶瓷： 研究材料增韌機(jī)理，測(cè)量裂紋尖端局部應(yīng)變變化。
材料基因：提供材料多尺度測(cè)量，為不同尺度對(duì)材料性能影響因素提供依據(jù)。
生命科學(xué)：研究細(xì)胞、組織結(jié)構(gòu)局部性能，并提供溫度場(chǎng)和流場(chǎng)環(huán)境支持。
汽車： 測(cè)試焊接、鑄造熱加工厚度性能變化，及復(fù)材顆�；w的相互作用。
造紙： 測(cè)量互鎖纖維應(yīng)變場(chǎng)，了解加強(qiáng)材料機(jī)理，節(jié)約成本。
核工業(yè)： 減少有限材料使用，降低輻射。
軍事： 介觀尺度仿真廣泛應(yīng)用于軍事，如纖維基質(zhì)相互作用，軟組織和骨骼等損傷研究。
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| 加入時(shí)間：2012-06-05
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