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產(chǎn)品型號:SE-4/SE-6/SE-8
產(chǎn)品代碼:
產(chǎn)品價格:
折 扣 率: 0
最后更新:2019-02-27
關 注 度:4030
生產(chǎn)企業(yè):深圳市鑫志尚電子有限公司
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產(chǎn)品詳細介紹晶圓測試探針臺 型號 SE-4 SE-6 SE-8 SE-12 外形 580mm長*620mm寬*730mm高 640mm長*700mm寬*730mm高 660mm長*660mm寬*700mm高 1030mm長*820mm寬*730mm高 重量 約70KG 約80KG 約85KG 約180KG 電力需求 220VC,50~60Hz 樣品臺 尺寸 4英寸,可360度旋轉 6英寸,可360度旋轉 8英寸,可360度旋轉 12英寸,可360度旋轉 X-Y行程 4英寸*4英寸 6英寸*6英寸 8英寸*8英寸 12英寸*12英寸 Z軸行程 6mm(快速切換)/6mm(微調) 移動精度 10um/1um 樣品固定方式 真空吸附 背電極測試功能 有,樣品臺電學獨立懸空 針座平臺 U型平臺,最多可放置6個針座 U型平臺,最多可放置8個針座 U型平臺,最多可放置10個針座 U型平臺,最多可放置12個針座 光學特性 顯微鏡行程 X-Y軸行程2英寸*2英寸,Z軸:50.8mm 顯微鏡移動精度 1um 切換鏡頭方式 顯微鏡快速傾仰30度 放大倍數(shù) 16~100X/20~4000X 鏡頭規(guī)格 目鏡:10X;物鏡:5X,10X,20X,50X,100X(選配) CCD像素 50W(模擬)/200W(數(shù)字)/500W(數(shù)字) 點針規(guī)格 X-Y-Z行程 12mm-12mm-12mm/8mm-8mm-8mm 機械精度 10微米/2微米/0.7微米/0.1微米 漏電精度 10pA/100fA (配置屏蔽箱時) 接口形式 香蕉頭/鱷魚夾/同軸/叁軸接口 應用方向 芯片及LD/LED/PD測試,PCB/封裝器件測試,射頻測試等。 可選附件 顯微鏡傾仰裝置(傾仰30度) 高低溫樣品臺 光強/波長測試選件 顯微鏡氣動升降裝置 屏蔽箱 射頻測試附件 激光微加工 轉接頭 有源探頭 探針卡夾具 防震臺 低電流/電容測試 顯微鏡暗場/DIC/Normarski 檢測光強/波長測試接口部件 鍍金卡盤 兼容積分球測試選件 液晶漏電分析套裝 同軸叁軸卡盤 光纖夾具耦合測試選件 高壓/大電流測試套件 樣品臺快速升降,微調升降裝置選件 PCB/封裝夾具測試選件 加熱臺 樣品臺旋轉微調選件 特殊定制 特點 1.顯微鏡龍門柱式設計,可使顯微鏡在平面內移動。 2.顯微鏡可傾仰或氣動升降,便于更換物鏡。 3.可升級做射頻,大電流方面的測試和激光修復應用。 4.同軸驅動卡盤,移動精度高。 特點 緊湊的結構 同軸絲杠傳動結構,線性移動 實惠的價格 無回程差設計 兼容高倍率金相顯微鏡,可微調移動 1微米以上電極/PAD測試 高等院校/研究所/公司實驗室使用 LD/LED/PD的光強/波長測試 最大可用于12英寸以內樣品測試 材料/器件的IV/CV特性測試 |
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加入時間:2017-01-11
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