Space Radiation | 空間輻射環(huán)境及效應(yīng)分析軟件
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產(chǎn)品型號(hào)：-
產(chǎn)品代碼：003
產(chǎn)品價(jià)格：面議
產(chǎn)品編碼：003
計(jì)量單位：套
折 扣 率： 0
最后更新：2017-08-10
關(guān) 注 度：3500
生產(chǎn)企業(yè)：北京環(huán)中睿馳科技有限公司
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產(chǎn)品詳細(xì)介紹Space Radiation 空間輻射環(huán)境及效應(yīng)分析軟件是廣泛使用于所要計(jì)算的模型暴露于下述空間環(huán)境的防輻照設(shè)計(jì)工具。最新版為V 7。
1、由Vanallen帶、太陽耀斑、銀河宇宙輻射造成的對(duì)空間系統(tǒng)的危害
通過該軟件可以估計(jì)總劑量、單粒子翻轉(zhuǎn)、太陽電池?fù)p傷、閉鎖、電子位移損傷。通過該軟件將全面簡(jiǎn)化軌道，輻射傳遞，輻射計(jì)算。用戶可以通過在個(gè)人電腦上進(jìn)行間潔的操作就可以得到精確的結(jié)果。
Space Radiation是針對(duì)windows操作系統(tǒng)開發(fā)的，擁有使用用戶所期待的各種方便快捷的功能。例如：
1、熟悉的菜單結(jié)構(gòu)
2、參數(shù)檢查對(duì)話框
3、多任務(wù)處理（同一時(shí)間進(jìn)行多任務(wù)處理）
4、鍵盤和鼠標(biāo)輸入
5、輸出可以采取剪貼板，磁盤，打印形式
6、超文本激活的全面的幫助文件
Space Radiation擁有大量的工業(yè)環(huán)境輻射的標(biāo)準(zhǔn)模式，標(biāo)準(zhǔn)空間輻照模式包括：
1、AP-8捕獲質(zhì)子模型；
2、AE-8捕獲電子模型；
3、CRèME宇宙輻射模型；
4、JPL1991太陽質(zhì)子模型；
5、IGRF/DGRF磁場(chǎng)模型；
6、電子、質(zhì)子和重離子的總劑量；
7、人類暴露劑量當(dāng)量等
所有的計(jì)算參數(shù)分別存入數(shù)據(jù)庫，這些參數(shù)還可以檢索，此操作意味著所有的計(jì)算結(jié)果均完全存儲(chǔ)并可供軟件使用者重復(fù)調(diào)用。
Space Radiation軟件可以模擬空間具體的輻照環(huán)境，為載人航天器的宇航員、星載電子設(shè)備所遭受的空間輻照源中所含的粒子類型，粒子能量，粒子通量做出了預(yù)測(cè)，為航天器試制研究、發(fā)射做出了預(yù)測(cè)，減少了航天器的失效，為宇航員的人體安全提供了有效保障。
具體功能介紹：
1、環(huán)境網(wǎng)格計(jì)算功能
計(jì)算基本輻射環(huán)境數(shù)據(jù)的經(jīng)緯度網(wǎng)格，包括磁場(chǎng)強(qiáng)度、分力、偏差、傾角、L層參數(shù)、磁臨界值、捕獲到的質(zhì)子以及電子網(wǎng)格。
2、重離子翻轉(zhuǎn)測(cè)試數(shù)據(jù)適配器(HITFIT)
自動(dòng)調(diào)整重離子測(cè)試數(shù)據(jù)，找出敏感體積維度，漏斗長(zhǎng)度，LET閾值，和威布爾參數(shù)（Weibull parameters）。
3、SOLPRO模型
原始太陽質(zhì)子影響模型
4、深部劑量功能
為被捕獲的質(zhì)子和電子、太陽質(zhì)子計(jì)算劑量和鋁屏蔽深度曲線。然后將這些曲線和屏蔽分布集合起來獲得復(fù)雜幾何圖形中的劑量。
5、太陽能細(xì)胞損傷等價(jià)物計(jì)算功能
按照噴氣推進(jìn)實(shí)驗(yàn)室（JPL）綠色、藍(lán)色書（Green and Blue Books）規(guī)定的方法，利用被捕獲的質(zhì)子、太陽質(zhì)子和被捕獲的電子環(huán)境為硅和砷化鎵太陽能電池計(jì)算1-MeV電子等價(jià)物。
6、即時(shí)圖形技術(shù)
顯示所有空間輻射文件（環(huán)境網(wǎng)格除外）的優(yōu)質(zhì)繪圖；縮放任何繪圖區(qū)域；以快速旋轉(zhuǎn)的三維立體方式展示軌道。
7、重離子翻轉(zhuǎn)模型
標(biāo)準(zhǔn)的重離子翻轉(zhuǎn)模型：輸入選項(xiàng)包括實(shí)驗(yàn)值（LET閾值和截面圖）、模型（臨界電荷和敏感體積維度）、威布爾參數(shù)和文件（測(cè)量截面和LET數(shù)據(jù)）。
8、極端太陽質(zhì)子模型
包括了含1972年8月和1989年10月在內(nèi)的若干極端太陽質(zhì)子事件的模型。這些模型包含了大部分質(zhì)子事件的峰值通量和總通量。
9、批量處理功能
增加了分批隊(duì)列、數(shù)據(jù)庫轉(zhuǎn)換、文件自動(dòng)更新和遺失數(shù)據(jù)恢復(fù)功能。
10、環(huán)境路徑分析
計(jì)算被捕獲的質(zhì)子和電子、磁場(chǎng)、L值或者軌道上每個(gè)點(diǎn)的臨界值。路徑分析可以告訴人們這些點(diǎn)屬于任務(wù)的什么部分。
11、重離子模型
新的重離子模型所需要的網(wǎng)關(guān)包括原始的CREME和SPACERAD重離子模型、通往能量譜或者LET譜的直接傳輸、通過屏蔽層的傳輸。
12、太陽重離子(MACREE)模型
關(guān)于1989年10月的太陽粒子事件MACREE 模型由波音公司為國際空間站開發(fā)。這些新的99%極端狀況下的太陽模型取代了舊版本。
13、殼體屏蔽分布評(píng)估功能
評(píng)估球形殼體、圓柱殼體或者盒體的隱蔽分布。這些可以應(yīng)用到所有的傳輸運(yùn)算中。結(jié)合深部劑量函數(shù)來計(jì)算復(fù)雜幾何圖形中的劑量。
14、固體屏蔽分布估算
估算一個(gè)無限平板或者固體球體、圓柱體和方形體中任何位置的屏蔽分布。
15、質(zhì)子譜導(dǎo)入功能
可向Space Radiation導(dǎo)入從其它來源（如CRRESPRO軟件）捕捉到的質(zhì)子或太陽質(zhì)子譜。
16、電子譜的導(dǎo)入和模型
可將其它軟件的任何電子譜導(dǎo)入Space Radiation，如CRRESELE，包括裂變電子譜模型。
17、中子譜的導(dǎo)入和模型
可將其它軟件的任何中子譜導(dǎo)入Space Radiation，包括一些來自反應(yīng)堆、研究資源和武器的中子譜。
18、大氣中子(航空電子設(shè)備/SE)模型
包括來自航空電子設(shè)備/SE的大氣中子譜模型。允許集成沿標(biāo)準(zhǔn)或極端惡劣環(huán)境的任何軌跡。
19、中子引起的單粒子翻轉(zhuǎn)模型
中子引起單粒子翻轉(zhuǎn)的標(biāo)準(zhǔn)模型，輸入選項(xiàng)包括LET閥值和飽和度剖面、威布爾參數(shù)和截面文件。
20、質(zhì)子引起的單粒子翻轉(zhuǎn)模型
質(zhì)子引起單粒子翻轉(zhuǎn)的標(biāo)準(zhǔn)模型，輸入選項(xiàng)包括1、2個(gè)參數(shù)的本德爾(A&B)模型、威布爾參數(shù)和截面文件。
21、太陽重離子(CHIME)模型
關(guān)于1991年三月和六月的太陽粒子事件的CHIME 模型由洛克希德-馬丁從CRRES任務(wù)結(jié)果中開發(fā)。這些新的90%最壞狀況的太陽模型取代了舊版本。
22、精確的磁場(chǎng)屏蔽
這項(xiàng)功能可將所有已知物理參數(shù)并入磁場(chǎng)屏蔽的精確計(jì)算中，被屏蔽的磁場(chǎng)可以是一個(gè)點(diǎn)，也可以是一個(gè)軌道。這是一項(xiàng)突破性的輻射效應(yīng)建模功能。通過使用這項(xiàng)功能，您將首次在飛船運(yùn)行軌道上，精確屏蔽銀河系宇宙輻射和太陽粒子的干擾。
23、質(zhì)子引起的單粒子翻轉(zhuǎn) II模型
此功能利用重離子測(cè)試數(shù)據(jù)如LET閥值，推測(cè)出質(zhì)子引起的單粒子翻轉(zhuǎn)率。它是基于利用基本核截面數(shù)據(jù)的蒙特卡羅模型。所有輔助物都被納入到這個(gè)結(jié)果。此功能最適合用于部件的快速篩查，以確定部件是否存在故障或需額外測(cè)試。
24、帶電粒子的軌跡跟蹤
跟蹤電子、質(zhì)子和任何能源的重離子軌跡，利用即時(shí)圖形顯示結(jié)果。使用此功能可實(shí)現(xiàn)粒子靠近飛船過程的可視化。您將獲悉電離粒子在地球磁場(chǎng)中的各項(xiàng)功能，包括大西洋上的異常現(xiàn)象、東西效應(yīng)、電子喇叭，偏微分算子和鏡像等。
25、復(fù)雜的盒屏蔽功能
該模型可以計(jì)算航天器中盒子的劑量和誤差率。盒頂、兩側(cè)和底部的厚度可單獨(dú)指定。航天器被理想化為一個(gè)大的球殼。這是一般系統(tǒng)容器的真實(shí)模擬，允許你去探索改進(jìn)的屏蔽結(jié)構(gòu)，包括添加工作塊到容器的一側(cè)和重置容器的一部分。
26、多點(diǎn)單粒子翻轉(zhuǎn)估算
此功能使用埃德蒙茲（JPL）模型，估算一個(gè)單一重離子通過同一裝置中的兩點(diǎn)，導(dǎo)致兩點(diǎn)或多點(diǎn)同時(shí)出錯(cuò)的概率。當(dāng)這些點(diǎn)沒有分布于不同裝置時(shí)，這些誤差通過誤差校正主導(dǎo)系統(tǒng)。添加點(diǎn)位距離后，輸入與重離子的SEU相同。
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| 會(huì)員級(jí)別：免費(fèi)會(huì)員 |
| 加入時(shí)間：2017-07-31
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