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產(chǎn)品型號：EW-ATR
產(chǎn)品代碼：
產(chǎn)品價格：
計量單位：臺
折 扣 率： 0
最后更新：2017-03-07
關(guān) 注 度：3873
生產(chǎn)企業(yè)：上海屹持光電技術(shù)有限公司
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產(chǎn)品詳細(xì)介紹產(chǎn)品簡介
太赫茲是近年來科研領(lǐng)域一個非常熱門的研究方向，太赫茲時域光譜測試技術(shù)則是一門新興的正在蓬勃發(fā)展的技術(shù)。目前國內(nèi)外物理學(xué)、光學(xué)相關(guān)領(lǐng)域的科研實驗室大多已經(jīng)裝備了太赫茲時域光譜測試設(shè)備，進(jìn)行超材料、半導(dǎo)體材料等的研究。然而太赫茲光譜很具特色的生物大分子識別特性卻很少得到真正的實際應(yīng)用。
Eachwave推出的太赫茲衰減全反射測試模塊，主要針對含水量多的細(xì)胞、組織等樣品，可以通過衰減全反射的方式測試出樣品對太赫茲波譜的吸收譜�？梢哉嬲膶⑻掌澆ㄗV的生物大分子指紋識別特性應(yīng)用于生物樣品的分析測試中去。讓更多人的生物科研用戶多了一個新型的強(qiáng)而有力的樣品分析研究手段。
太赫茲衰減全反射測試，專門用于測試對入射的太赫茲光譜具有強(qiáng)烈吸收的樣品。太赫茲波段的衰減全反射模塊核心部件是一塊高阻硅（HRSi）棱鏡，HRSi在太赫茲波段（0.1-4THz）具有平坦且很高的折射率，在0.1-4THz，HRSi折射率約為3.416。
如下圖所示，太赫茲光束經(jīng)過高折射率的高阻硅(HRSi)棱鏡，入射到小折射率的樣品上，在樣品與高阻硅(HRSi)界面全反射，此過程中，太赫茲(THz)光束會在樣品中有一定的穿透深度，即全反射過程中產(chǎn)生的倏逝波會在樣品中傳播一段距離并最終攜帶樣品的信息反射出來。通過這種方法可以測試對太赫茲波吸收強(qiáng)烈、不能用常規(guī)透射或反射方法測試的樣品（如生物樣品、細(xì)胞蛋白質(zhì)等）。
技術(shù)參數(shù)
高阻硅折射率
3.416
樣品池尺寸 25mm*40mm
樣品折射率要求 < 2.5
THz光束入射角度 51.6°
太赫茲衰減全反射測試模塊用于客戶的TDS系統(tǒng)中
ATR模塊應(yīng)用于TDS系統(tǒng)中（THz光束平行，直徑約為2cm），
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