 |
產(chǎn)品型號(hào)：Leica EM RES102
產(chǎn)品代碼：
產(chǎn)品價(jià)格：臺(tái)
折 扣 率： 0
最后更新：2016-10-27
關(guān) 注 度：2688
生產(chǎn)企業(yè)：呼和浩特市悅昌行商貿(mào)有限公司
|
|
|
 與企業(yè)聯(lián)系時(shí)請(qǐng)告知該信息來(lái)自教育裝備網(wǎng)！ |
|
|
產(chǎn)品詳細(xì)介紹Leica EM RES102多功能離子減薄儀
適用于TEM，SEM以及LM的樣品制備。
獨(dú)特的解決方案
Leica EM RES102 是一款獨(dú)特的離子束研磨設(shè)備，帶有兩個(gè)鞍形場(chǎng)離子源，離子束能量可調(diào)，以獲得最佳離子研磨結(jié)果。這一款獨(dú)立的桌面型設(shè)備集 TEM，SEM和LM樣品制備功能于一體，這與市面上其它設(shè)備截然不同。除了高能量離子研磨功能外，徠卡EM RES102還可用于低能量極溫和的離子束研磨過(guò)程。
http://www.yetech.hk/
TEM 樣品
› 單面或雙面離子束研磨適用于材料的離子束減薄過(guò)程。鞍形場(chǎng)離子源可獲得很大的電子束透明薄區(qū)。
› 程序化控制的離子入射角度變化，適用于完成特殊的樣品制備目的，例如FIB樣品清潔，以減少無(wú)定形非晶層。
SEM 或 LM 樣品
› 離子束拋光最大拋光區(qū)域可達(dá)25mm。
› 離子束清潔適用于對(duì)樣品表面污染層或機(jī)械拋光后表面產(chǎn)生的涂抹層進(jìn)行清潔。
› 樣品表面襯度增強(qiáng)作用，可替代化學(xué)刻蝕作用。
› 35°斜坡切割用于制備多層樣品的截面。
› 90°斜坡切割用于制備復(fù)合結(jié)構(gòu)的半導(dǎo)體樣品或組裝器件，這種方式所需的機(jī)械預(yù)加工工作最少 。
http://www.yetech.hk/ |
|
| 會(huì)員級(jí)別：免費(fèi)會(huì)員 |
| 加入時(shí)間：2015-10-20
|
|
|
在線客服
