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美國PINE雙恒電位儀電化學工作站200
產(chǎn)品型號:WaveDrive200
產(chǎn)品代碼:1
產(chǎn)品價格:1
產(chǎn)品編碼:1
計量單位:1
折 扣 率: 0
最后更新:2017-07-15
關 注 度:4045
生產(chǎn)企業(yè):理化公司
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產(chǎn)品詳細介紹美國PINE雙恒電位儀/電化學分析儀/電化學工作站200
產(chǎn)品簡介:
產(chǎn)品型號:WaveDriver200
品牌:美國PINE
產(chǎn)地:美國
PINE公司推出新一代WaveDriver200恒電位儀/恒電流儀/零電阻電流計,可以用于兩電極、三電極、四電極模式,具有交流阻抗功能(EIS),可以廣泛地應用于燃料電池、鋰電池、太陽能電池、隔膜、超級電容器、傳感器、涂層、緩蝕劑、物理化學等研究領域,經(jīng)典應用為旋轉(zhuǎn)圓盤圓環(huán)電極(RRDE)測試。

主要特點:
高性價比、雙恒電位儀(四電極模式)、RRDE測試功能強大(6種測量模式)、EIS交流阻抗測試功能強大、軟件功能強大(可編程、易篩選、好模板)。


詳細介紹:
接線:兩電極、三電極、四電極模式
具備浮地功能
最小電壓分辨率:78 μV
最小電流分辨率:3.13 pA
轉(zhuǎn)換速率:最快 10 V/μs
紋波噪聲:<10 mVRMS
模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器:16 bit
順從電壓:±17V
泄漏電流:<10 pA
帶寬(3 dB):>15 MHz
最大采樣點:1000萬個/每次實驗
儀器尺寸:160(寬)*255(高)*324(長)mm
儀器重量:4.6 kg
IR補償:交流阻抗法(EIS)、電流中斷法(CI)、正反饋法(PF)

EIS交流阻抗參數(shù)
交流阻抗頻率范圍:10 μHz-1 MHz
頻率精度:±10 ppm
數(shù)據(jù)曲線:Lissajous、Bode、Nyqusit、 Mott-Schottky
數(shù)據(jù)模型:Circuit fit、Transmission line、Kramers-Kronig
Circuit fitting方法:修正的Levenberg-Marquardt法、Simplex法、Powell法
Circuit fitting選項:動態(tài)選擇點、單位和參數(shù)
掃描方式:線性、對數(shù)、自定義

RRDE測試方法
Rotating Ring-Disk Voltammetry 旋轉(zhuǎn)圓盤圓環(huán)電極測試方法(RRDE)。        RRDE方法包含6種測試模式,功能強大。
Collection Mode:盤電極設置CV或LSV方法,環(huán)電極設置恒電壓CA方法;
Shielding Mode:盤電極設置恒電壓CA方法,環(huán)電極設置CV或LSV方法;
Window Mode:盤和環(huán)電極同時設置CV或LSV方法;
Diametric Mode:盤電極和環(huán)電極同時設置CV或LSV方法,但是呈鏡像測試;
Galvanostatic Mode:盤電極設置CV方法,環(huán)電極設置恒電流CP方法;
Galvanostatic Shielding Mode盤電極設置恒電流CP方法,環(huán)電極設置CV方法。

電壓參數(shù)
最大施加電壓:±15 V
準確性:±0.2%(設定電壓)、±0.05%(測量電壓)
電壓量程:3檔(±2.5 V, ±10 V, ±15 V)
電壓分辨率:對應上述3檔量程分別為78 μV/bit、313 μV/bit和469 μV/bit

電流參數(shù)
最大施加電流:±1 A
適用電流工作范圍:±20 pA到±1 A
準確性:±0.2%(設定電流)、±0.05%(測量電流)
電流量程:8檔(從±100 nA到±1 A)
電流分辨率:0.0031%

電化學方法
Open Circuit Potential 開路電位法(OCP)
Bulk electrolysis 電解法(BE)
Cyclic Voltammetry 循環(huán)伏安法(CV)
Linear Sweep Voltammetry 線性掃描伏安法(LSV)
Spectroelectrochemistry 光譜電化學測試方法(SPECE)
Staircase Voltammetry 階躍伏安法(SCV)
Chronoamperometry 計時電流法/恒電位法(CA)
Double Potential Step Chronoamperometry 雙電位階躍計時電流法(DPSCA)
Cyclic Step Chronoamperometry 循環(huán)階躍計時電流法(CSCA)
Chronopotentiometry 計時電位法(CP)
Ramp Chronopotentiometry 斜坡計時電位法(RCP)
Staircase Potentiometry  階躍計時電位法(SCP)
Cyclic Step Chronopotentiometry 循環(huán)階躍計時電位法(CSCP)
Differential pulse Voltammetry 差分脈沖伏安法(DPV)
Square-Wave Voltammetry 方波循環(huán)伏安法 (SWV)
Normal Pulse Voltammetry 常規(guī)脈沖伏安法(NPV)
Rotating Methods 旋轉(zhuǎn)圓盤圓環(huán)電極測試方法
Rotating Disk Voltammetry (RDE)
Rotating Disk Koutecky-Levich (KL-RDE)
Rotating Disk Electrolysis (BE-RDE)
Rotating Disk Chronopotentiometry (CP-RDE)
Rotating Disk Ramp Chronopotentiometry (RCP-RDE)
Rotating Ring-Disk Voltammetry (RRDE)
Rotating Ring-Disk Electrolysis (BE-RRDE)
Rotating Ring-Disk Koutecky-Levich (KL-RRDE)
Corrosion Methods 腐蝕電化學方法
Linear Polarization Resistance (LPR)
Rotating Cylinder Voltammetry (RCE)
Rotating Cylinder Electrolysis (BE-RCE)
Rotating Cylinder Eisenberg Study (EZB-RCE)
Rotating Cylinder Open Circuit Potential (OCP-RCE)
Rotating Cylinder Polarization Resistance (LPR-RCE)
Rotating Cylinder Chronopotentiometry (CP-RCE)
Rotating Cylinder Ramp Chronopotentiometry (RCP-RCE)













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